・通商産業省
(当時)重要技術開発「電着塗装法における高性能磁気記憶ディスクの工業化試験」の開発研究を受託
- 1970(S45)年
日本万国博覧会(EXPO’70)開催
日本システム研究所は、電子技術のめざましい発展に呼応する時代の担い手として、電子・電気機器やFA(ファクトリーオートメーション)の検査および制御システム分野において、社会に貢献してまいりました。
1970(S45)年 | ・通商産業省 (当時)重要技術開発「電着塗装法における高性能磁気記憶ディスクの工業化試験」の開発研究を受託
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1974(S49)年 | ・マイクロコンピュータを採用したデータ収集装置を開発、製品化
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1979(S54)年 | ・この頃からパソコン「オフコン」→「コンポBS」→「PC80」→「PC98」と変遷やCPU8080、Z80を使用した検査システムを開発 |
1982(S57)年 |
・非接触伝送器の基礎研究に着手
・電導度計のちの肌水分センサの開発を通じ、肌診断機(第1世代)を開発、製品化
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1985(S60)年 |
・非接触伝送装置原出願は特願昭60-12029その他多数に分割を「シグナルカプラ」の商品名でシリーズ化し、製品化に着手
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1992(H4)年 |
・肌診断機(第3世代:コードレスにて赤外線通信機能追加)を開発、製品化
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1999(H11)年 | ・Windows工場現場での運用適正≒リアルタイム性を見極めてからの使用開始を利用したシステム開発に着手
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2005(H17)年 | ・測定者の技量や習熟度に依存せずに、安定した測定を可能とする「マクチャンセンサ「うマクチャンと測れるセンサ」の意」を開発 |
2008(H20)年 | ・ケロイド治癒評価装置の開発に着手 |